Fischer XDLM 231鍍層測厚儀的詳細(xì)資料：

Fischer XDLM 231鍍層測厚儀

篤摯儀器：我們的工業(yè)計量使您能夠在整個生產(chǎn)過程中有效地監(jiān)控工件的質(zhì)量。通過高效自動化的計量解決方案，始終如一地提供高質(zhì)量的產(chǎn)品。憑借我們豐富的專業(yè)知識和數(shù)十年的經(jīng)驗，我們確切地知道客戶的需求和需求。我們與您一起尋找合適的系統(tǒng) - 聯(lián)系我們的專家以獲取建議。我們的客戶服務(wù)團隊隨時為您提供支持，維修和維修系統(tǒng)的高可靠性。

FISCHERSCOPE®-X-RAYXDLM x射線熒光鍍層測厚和材料分析儀：

       FISCHERSCOPE®-X-RAYXDLM®儀器是普遍適用的能量色散X射線光譜儀。 它們構(gòu)成了成熟的FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4模型系列開發(fā)的下一步。 像它們的前輩一樣，它們特別適合于無損厚度測量和薄涂層分析以及批量生產(chǎn)的零件和印制板上的自動測量。有三個型號：XDLM 231具有平面支撐臺，XDLM 232具有手動操作的X / Y臺。 XDLM 237配備了一個電動X / Y平臺，當(dāng)打開防護罩時，該平臺會自動移到裝載位置。

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL和XDLM系列與XUL和XULM系列密切相關(guān)：兩者都使用相同的接收器，準(zhǔn)直器和濾片組合。配備了標(biāo)準(zhǔn)X射線管和固定準(zhǔn)直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。XDLM型號的X射線源采用微聚焦管，可以測量細(xì)小的部件，對低輻射組分有較好的激勵作用。此外，XDLM配備了可自動切換的準(zhǔn)直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應(yīng)用創(chuàng)造*佳的激勵條件。

兩種型號的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對于很小的測量點，由于接收器的接收面積很大，仍然可以獲得足夠高的計數(shù)率，確保良好的重復(fù)精度。比較XUL和XULM儀器而言，XDL和XDLM系列儀器測量測量方向從上到下。它們被設(shè)計為用戶友好的臺式機，使用模塊化結(jié)構(gòu)，也就是說它們可以配備簡單支板，各種XY工作臺和Z軸以適應(yīng)不同的需求。

特征：
   • 帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦X射線管。工作條件:50KV,50W
   • X射線探測器采用比例接收器
   • 準(zhǔn)直器：固定或4個自動切換，0.05 x0.05 mm 到 ? 0.3 mm
   • 基本濾片：固定或3個自動切換
   • 測量距離可在0-80 mm范圍內(nèi)調(diào)整
   • 固定樣品支撐臺 ，手動XY工作臺
   • 攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置?？潭染€經(jīng)過校準(zhǔn)，顯示實際測量點大小。
   • 設(shè)計獲得許可，防護全面，符合德國X射線條例第4章第3節(jié)

典型應(yīng)用領(lǐng)域:
   • 大批量電鍍件測量
   • 防腐和裝飾性鍍層，如鎳或銅上鍍鉻
   • 電鍍行業(yè)槽液分析
   • 線路板行業(yè)如薄金，鉑和鎳鍍層的策略
   • 測量接插件和觸點的鍍層
   • 電子和半導(dǎo)體行業(yè)的功能性鍍層測量
   • 黃金，珠寶和手表行業(yè)

應(yīng)用實例:

       XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni，Au/PdNi/Ni，Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構(gòu)如*或突起，測量這些區(qū)域必須使用很小的準(zhǔn)直器或適合樣品形狀的準(zhǔn)直器。例如測量橢圓形樣品時，就要使用開槽的準(zhǔn)直器以獲得大的信號強度。